东京大学等・确立新型多色X射线计算机断层扫描 (CT) 技术

据悉，DiaTrend公司与东京大学工程研究生院島添健次副教授领导的研究小组、东北大学金属材料研究所鎌田圭副教授以及布鲁诺-凯斯勒基金会（Fondazione Bruno Kessler 意大利）合作，确立了新型多色X射线计算机断层扫描 (CT) 技术。

概述

该研究通过开发使用闪烁体阵列及SiPM阵列（注释1和2）的精细X射线能量测量技术，成功建立了一种新型多色X射线CT技术（图 1）。与之前的研究相比，该技术确认了通过250µm像素的实用尺寸可获得足够的能量分辨率。另外，与传统的化合物半导体探测器相比，其另一个优点是可抑制电荷扩散。该项研究成果有望在未来的新型医疗诊断中发挥作用，例如低照射剂量的X射线CT技术和材料鉴定等。

该研究成果于2024年11月25日（英国时间）发表在英国科学杂志《Communications Engineering》的网络版上。

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